可程式高低溫試驗(yàn)箱

可程式高低溫試驗(yàn)箱

產(chǎn)品簡(jiǎn)介：

高溫高濕試驗(yàn)箱（新品低價(jià)銷售），高低溫老化試驗(yàn)箱，低溫測(cè)試箱廣泛用于航空、航天、電子電工產(chǎn)品、儀器儀表、材料、零部件、設(shè)備等做加速濕熱試驗(yàn)、交變濕熱試驗(yàn)、恒定濕熱試驗(yàn)，也可用做高低溫例行試驗(yàn)、耐寒試驗(yàn)、低溫儲(chǔ)存，以便對(duì)試驗(yàn)中擬定環(huán)境條件下的性能、行為作出分析及評(píng)價(jià)。

產(chǎn)品特點(diǎn)：

高溫高濕試驗(yàn)箱（新品低價(jià)銷售）低溫測(cè)試箱采用進(jìn)口高級(jí)溫濕度控制儀表，帶PID調(diào)節(jié)、快速自整定，可設(shè)定多種參數(shù)，數(shù)字式顯示，讀數(shù)極為方便；

制冷系統(tǒng)采用進(jìn)口原裝壓縮機(jī)，高效穩(wěn)定可靠；

內(nèi)膽材料采用高級(jí)不銹鋼砂光板，外殼采用冷軋板靜電噴塑，整體外形美觀大方；

箱門(mén)與工作室及外殼之間設(shè)有耐高溫密封條，有效保證工作室的密封性；

以上尺寸僅供參考，可根據(jù)客戶要求設(shè)計(jì)解決方案。

產(chǎn)品技術(shù)參數(shù)：

溫度范圍：0℃～150℃、-20℃～150℃、-40℃～150℃、-60℃～150℃、-70℃～150℃、
溫度均勻度：±2℃（空載時(shí)）
溫度波動(dòng)度：±0.5℃（空載時(shí)）
升溫速率：1.0～3.0℃/min
降溫速率：0.7～1.0℃/min

高溫高濕試驗(yàn)箱（新品低價(jià)銷售）低溫測(cè)試箱滿足試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)：

GB10586-89濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10586-89低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-89 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11158 高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB2423.1-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2-89電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A：高溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.3-93電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程試驗(yàn)Ca恒定濕熱試驗(yàn)方法

GJB150.3-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 高溫試驗(yàn)

GJB150.4-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 低溫試驗(yàn)

GJB150.5-86設(shè)備環(huán)境試驗(yàn)方法 濕度試驗(yàn)

GB/T2423.4-93 交變濕熱試驗(yàn)方法

GB/T2423.22-2001 溫度變化試驗(yàn)方法

IEC60068-2-1.1990 低溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

IEC60068-2-2.1974 高溫試驗(yàn)箱試驗(yàn)方法

注：產(chǎn)品具體參數(shù)細(xì)節(jié)及優(yōu)惠價(jià)格可詳談；另可根據(jù)客戶需求進(jìn)行定制